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      高溫工作壽命實驗（High temperature operating life test :HTOL）

      測試目的：芯片處于高溫條件下，加入動態信號，并長時間工作，以評估其使用壽命，并確定其可靠性。

      測試條件：結溫(Tj)≧125℃，電壓Vcc≧Vccmax，測試時間：1000hrs

      樣品數：77ea/lot , 3lots

      測試讀點：168 、500 、1000hrs

      參考規范：MIL-STD-883 Method 1005.8、JESD22-A108

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