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      低溫工作壽命實驗（Low temperature operating life test :LTOL）

      測試目的：芯片處于低溫條件下，加入動態信號，并長時間工作，以評估“熱載子衰退效應”（Hot carrier degradation）。

      測試條件：結溫(Tj)≦50℃，電壓Vcc≧Vccmax ，測試時間：1000hrs

      樣品數：32ea/lot , 1lot

      測試讀點：168 、500 、1000hrs

      參考規范：JESD22-A108


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