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      早夭失效率實驗（Early life failure rate test:ELFR/EFR）

      測試目的：芯片處于與HTOL類似的條件下，通過一定數量的實驗樣本，找到早夭產品，進而評估出早夭率

      測試條件：結溫（Tj）≧125℃，電壓Vcc≧Vccmax，測試時間:48~168hrs

      樣品數：依 ELFR table

      參考規范：JESD22-A108、JESD74

      ELFR Table：









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