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      早夭失效率實驗(Early life failure rate test:ELFR/EFR)

      測試目的:芯片處于與HTOL類似的條件下,通過一定數量的實驗樣本,找到早夭產品,進而評估出早夭率

      測試條件:結溫(Tj)≧125℃,電壓Vcc≧Vccmax,測試時間:48~168hrs

      樣品數:依 ELFR table

      參考規范:JESD22-A108、JESD74

      ELFR Table:









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