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      溫濕度偏壓高加速應力實驗（High accelerated temperature and humidity stress test: HAST）

      測試目的：芯片處于密閉空間內高溫、高濕、高壓的加速因子下，施加電壓，以實驗封裝的抗腐蝕能力，確定其可靠性。

      測試條件：130℃/110 ℃，85% RH，蒸氣壓:33.3/17.7 psia，電壓Vcc=Vccmax，測試時間:96/264hrs

      樣品數：25ea/lot , 3lots

      參考規范：JESD22-A110 

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