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      高溫儲存（High temperature storage life test：HTSL）

      測試目的：模擬芯片被使用前,長時間儲存的情況。

      測試條件：150 ℃，測試時間：1000hrs

      樣品數：25ea/lot , 3lots

      測試讀點：168 、500 、1000hrs

      依據規范：JESD22-A103


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