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高溫儲存(High temperature storage life test:HTSL)
測試目的:模擬芯片被使用前,長時間儲存的情況。
測試條件:150 ℃,測試時間:1000hrs
樣品數:25ea/lot , 3lots
測試讀點:168 、500 、1000hrs
依據規范:JESD22-A103
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